 | Optical microscope (OM)เป็นกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงรูปแบบหนึ่งที่ใช้แสงเป็นตัวช่วยในการทำให้มองเห็นภาพ โดยแสงจะวิ่งผ่านระบบเลนส์ต่างๆ และมีการส่องไปที่วัตถุ ก่อนที่แสงจะส่องผ่านเข้าสู่สายตาเรา ซึ่งแสงที่อยู่ภายในระบบที่สะท้อนกลับเข้าสู่สายตาเราจะทำให้เราเห็นภาพได้ โดยการมองผ่านเลนส์ Eyepiece Read more >> |
 | X-Ray Diffraction (XRD)เป็นเครื่องมือที่ใช้ในการตรวจสอบ หาองค์ประกอบ ของตัวอย่าง โดยอาศัยหลักการแทรกสอด (Diffraction) ของรังสีเอกซ์ที่กระทบกับ หน้าผลึกของ วัสดุด้วยมุมต่างๆ กันและเทียบผลวิเคราะห์ กับข้อมูลของสารมาตรฐานเพื่อแยกชนิดของสารที่ทดสอบ สามารถใช้ตรวจหาองค์ประกอบของวัสดุ ที่อยู่ในรูปของแข็ง ทั้งที่เป็นชิ้นตัวอย่าง และที่อยู่ในสภาพผง Read more >> |
 | Scanning Electron Microscopy (SEM)scanning electron microscope (SEM) เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน การสร้างภาพทำได้โดยการตรวจวัดอิเล็กตรอนที่สะท้อนจากพื้นผิวหน้าของตัวอย่างที่ทำการสำรวจ ซึ่งภาพที่ได้จากเครื่อง SEM นี้จะเป็นภาพลักษณะของ 3 มิติ จึงถูกนำมาใช้ในการศึกษาสัณฐานและรายละเอียดของลักษณะพื้นผิวของตัวอย่าง นิยมนำมาตรวจสอบลักษณะผิวภายนอกของตัวอย่าง Read more >> |
 | X-Ray Analytical Microscopeกล้องจุลทรรศน์รังสีเอกซ์ใช้คลื่นแม่เหล็กไฟฟ้า ในช่วงของรังสีเอกซ์พลังงานต่ำ ในการทำให้มองเห็นภาพวัตถุที่มีขนาดเล็กมาก ซึ่งแตกต่างจากกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสง เนื่องจากรังสีเอกซ์มีการสะท้อนและการเลี้ยวเบนได้น้อยกว่า รวมทั้งตาของเราก็ไม่สามารถมองเห็นด้วย ดังนั้นหลักการของกล้องจุลทรรศน์รังสีเอกซ์ จึงเป็นการฉายรังสี ที่เกิดจากการส่องผ่าน หรือสะท้อนจากตัวอย่าง ลงบนฟิล์ม หรือใช้ charge-coupled device (CCD) ในการจับภาพ Read more >> |
